Semana 5: Milton Oswaldo Vázquez Lepe

Viernes 15 de septiembre 13:00 hrs.  Auditorio Antonio Rodríguez (Módulo E) CUCEI

Fotogalería

Constancia

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Profesor Investigador Titular A, código 2317001, Departamento de Ingeniería de Proyectos, Centro Universitario de Ciencia Exactas e Ingenierías (CUCEI), Universidad de Guadalajara.

FORMACIÓN ACADÉMICA

Estancia Post – Doctoral (2012)
Laboratorio de Investigación en Materiales del Centro de Investigación y de Estudios Avanzados del Instituto Politécnico Nacional (Unidad Querétaro)
Tema: “Nanopelículas en la industria electrónica: la capa interfaz del sistema SiO2/Si”

Doctorado en Ciencias en Ingeniería Química (2009)
Universidad de Guadalajara
Tesis: “Incorporación de quitosano a polímeros compuestos para aplicación en ingeniería ambiental”

Maestría en Ciencias en Ingeniería Química (2003)
Universidad de Guadalajara
Tesis: “Influencia de la concentración y la relación de viscosidad en la coalescencia de partículas en mezclas PS/PEAD”

Lic. en Ingeniería Química (2001)
Universidad de Guadalajara
Tesis: “Efecto de la relación de viscosidad en la coalescencia de partículas en mezclas de polímeros inmiscibles”

Perfil en researchgate.


Análisis de Superficies con Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos-X (XPS)

Las técnicas de análisis de superficie han tenido un enorme éxito en el desarrollo de nuestra comprensión de los fenómenos de superficie. La complejidad de los materiales que ahora se espera caracterizar ha aumentado y como consecuencia a veces es difícil entender los datos. Para generar la información, es necesario que una técnica de análisis de superficie proporcione los datos, tan cerca como sea posible dentro de los límites de profundidad. XPS es una técnica espectroscópica cuantitativa que mide la composición elemental, fórmula empírica, estado químico y electrónico de estado de los elementos que existen de un material. Los espectros se obtienen por irradiación con un haz de rayos-X, mientras la medición simultánea de la energía cinética y el número de electrones que se escapan de los 1 a 10 nm del material que está siendo analizada. Para esto, se requieren las condiciones de ultra alto vacío.


Actividad exclusiva para alumnos de la Maestría y el Doctorado en Ciencias en Ingeniería Química

La invitación del Dr. Milton fue muy amable para utilizar el XPS para sus diferentes proyectos. El formulario de esta semana está dirigido a establecer la pertinencia de la técnica para los materiales con los que están trabajando y hacer una revisión bibliográfica al respecto.

FORMULARIO

Ya no es necesaria el correo académico de google para responder a los formularios, aunque no esté de más tener una forma de identificarse como universitarios en los medios electrónicos.

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